-
德国T S TS-X 轮廓测试仪
德国T&S TS-X 轮廓测试仪TS-X 轮廓测试仪，X轴承载工件，Z轴进行轮廓扫描，数据采集和控制都基于先进的数字技术。机械基础是很高质量的花岗岩使用基本元素...
型号：
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2024/3/7 13:48:31
对比
TS-X 轮廓测试仪T&S/德国
-
薄膜应力及基底翘曲测试设备
薄膜应力及基底翘曲测试设备产品品牌：Frontier Semiconductor产品型号：薄膜应力和硅片翘曲检测仪产品描述：光学设计减少图形衬底对激光的干涉。
型号： Frontier ...
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2023/5/23 16:10:43
对比
薄膜应力测试仪晶元弯曲测试仪基底翘曲分析仪薄膜裂纹测试仪半导体薄膜分析
-
全自动紫外线芯片应力测量仪
全自动紫外线芯片应力测量仪全自动紫外线芯片应力测量仪一台全自动紫外线——可见光RAMan仪器，主要用与测量芯片应力。
型号： FSM360
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2023/5/22 18:11:14
对比
应力测试仪芯片应力分析仪应力测试机应力机器应力分析仪
-
晶圆厚度测量系统
晶圆厚度测量系统非接触式厚度测量，可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆，也可测量粘附在蓝膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆，可应用于堆叠芯片和微机电系统。
型号： FSM 413 E...
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2023/5/22 14:16:00
对比
干涉光测厚仪反射膜测厚仪IR干涉测厚仪薄膜厚度测量显微反射测厚仪
-
薄膜应力及基底翘曲测试设备
薄膜应力及基底翘曲测试设备 FSM 500TC 200mm 高温应力测试系统可以帮助研发和工艺工程师评估薄膜的热力学性能和稳定性特性，主要应用于半导体，三-五族...
型号： FSM 500TC
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2023/5/22 10:32:36
对比
薄膜应力测试仪晶元弯曲测试仪基底翘曲分析仪薄膜裂纹测试仪半导体薄膜分析
-
薄膜应力及基底翘曲测试设备
薄膜应力及基底翘曲测试设备 FSM推出基于商业化应用的激光扫描光学杠杆（Optilever）技术，主要应用于薄膜应力和晶圆弯曲测量。该设备频繁使用在分析解决诸如...
型号：
所在地：上海市
参考价：
面议更新时间：2023/5/22 10:08:02
对比
薄膜应力测试仪晶元弯曲测试仪基底翘曲分析仪薄膜裂纹测试仪半导体薄膜分析
